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用于测定颗粒物的化学和/或物理性能的测定装置和松散物料清除机

摘要

一种用于测定颗粒物的化学和/或物理性能的测定装置(1),具有至少一个用于光谱法测定颗粒物的光学检测探头,其中检测探头为了防止颗粒物入侵,可通过一闭锁保护机构(16‑19)暂时地锁闭,从而在检测探头(3)前面形成一封闭的腔(20),而且在所述腔(20)中设有用于清洗和/或冷却所述腔(20)和/或光学检测探头的清洗装置和/或冷却装置。本实用新型还公开了一种具有所述测定装置的松散物料清除机。

著录项

  • 公开/公告号CN205749199U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2016-11-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西门子公司;

    申请/专利号CN201520747607.6

  • 申请日2015-09-24

  • 分类号

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人郝俊梅

  • 地址 德国慕尼黑

  • 入库时间 2022-08-22 01:52:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-07

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N15/00 授权公告日:20161130 终止日期:20170924 申请日:20150924

    专利权的终止

  • 2016-11-30

    授权

    授权

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