柱面透射弯晶分析器

摘要

一种柱面透射弯晶分析器，包括支撑台，所述支撑台一个侧面为抛光后的圆弧凸面，该圆弧凸面中心位置设有用于待测X射线穿过的第一矩形测量孔，该支撑台两侧设有对称的圆形沉孔，且所述支撑台的圆弧凸面贴合有抛光后的平面薄晶体，本实用新型平面薄晶体的表面面型精度较高，而且降低装配难度，有效地保护晶体表面不被伤害，同时使平面薄晶体弯曲半径可控制得很小，提高分析器的应用灵活性。