退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
公开/公告号CN204924617U
专利类型实用新型
公开/公告日2015-12-30
原文格式PDF
申请/专利权人 中国人民解放军武汉军械士官学校;
申请/专利号CN201520709446.1
发明设计人 江恒;张晶;王小兵;易志刚;王力登;祝宝辉;王在渊;
申请日2015-09-14
分类号
代理机构武汉宇晨专利事务所;
代理人李鹏
地址 430075 湖北省武汉市珞瑜东路42号
入库时间 2022-08-22 01:03:31
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2015-12-30
授权
机译: 用于检测光学系统的视觉和光学性能的组合检测器以及用于光学系统的相关测试装置
机译: 用于检测和减轻光学系统中的光学性能下降的方法和装置
机译:用于HPGe检测器的低噪声JFET-CMOS前置放大器的低温性能
机译:使用670 nm cw VCSEL和单片Si光电检测器和CMOS前置放大器的光纤数据链路的性能
机译:接收机噪声影响下的前置放大直接检测系统的性能
机译:使用矩量生成函数评估光学前置放大的直接检测OFDM系统的性能
机译:具有前置序列接受标准的串行匹配滤波器数据包获取算法的性能。
机译:基于场景的波前感测量显微镜自适应光学系统的成像性能
机译:半导体检测器X射线光谱仪的脉冲光反馈前置放大器的性能
机译:具有116 photon / Bitsensitivity的3GBIT / s光学前置放大器直接检测DpsK接收器