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X射线荧光分析测定水泥成分的方法及系统

摘要

本发明是关于X射线荧光分析测定水泥成分的方法及系统。所述方法包括:制备标准水泥样品熔片和待测水泥样品熔片,并测量X荧光强度;将待测水泥样品测得的各个元素强度转化为稀释比为5的强度值,计算待测水泥样品各化学成分的含量,计算待测水泥样品各化学成分的含量总和;并判断待测水泥样品各化学成分的含量总SUM和与标准样品中各化学成分的含量总和SUMS之差是否在预设范围内,多次计算,当所述之差位于预设范围内时,该次计算得到的质量分数即为测定结果。所述X射线荧光分析系统,其包括的数据处理装置执行上述方法中的某些步骤。本发明的方法及系统操作过程简便易行,适于实用。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-05-11

    授权

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  • 2014-09-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/223 申请日:20130130

    实质审查的生效

  • 2014-08-06

    公开

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