公开/公告号CN204575295U
专利类型实用新型
公开/公告日2015-08-19
原文格式PDF
申请/专利号CN201520303246.6
申请日2015-05-12
分类号
代理机构北京品源专利代理有限公司;
代理人胡彬
地址 102211 北京市昌平区昌平镇超前路9号301室
入库时间 2022-08-22 00:45:37
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2015-08-19
授权
授权
机译: 一种用于测量样品激发荧光质的荧光的装置,其形式为滴液激发荧光质,其基本上平行地包含在两个表面铁砧之间的表面张力的作用下。测量样品激发荧光质的荧光的方法两个基本平行的超细砧座之间的表面张力所包含的纳米粒子的量和用于测量样品受到来自包括低于亚微米级的光源的光的样品的荧光光谱的方法该样品光谱的光源的光谱扩展进行测量以获得荧光光谱
机译: 一种用于检测流体表面的装置,具有微计算机,该微计算机使用脉冲发生器将脉冲提供给探针(即,管状针),并且使用计时器来测量和评估直到脉冲超过阈值的时间。
机译: 一种用于测量表面霜的厚度的探针