一种光数字继电保护测试仪时间特性检验装置

摘要

一种光数字继电保护测试仪时间特性检验装置，该检验装置以CPU、现场可编程门阵列FPGA、存储器系统、复杂可编程逻辑器件CPLD为核心，再加上光纤以太网模块PHY、光纤收发器、电以太网模块PHY、恒温晶振、本地时钟电路、LED外围部件组成；所述FPGA通过数据接口PCI_e与CPU互联，同时CPU与光纤以太网模块互联；所述恒温晶振分别与CPU和本地时间电路连接；所述存储器系统由EEROM存储器和DDR3存储器组成，所述存储器DDR3与CPU连接。本实用新型光数字继电保护测试仪时间特性检验装置可有效检验光数字继电保护测试仪的时间特性，适用于电力科研单位及高校电力实验室。