一种二次元测量平面度的装置

摘要

本实用新型公开了一种二次元测量平面度的装置，包括底座、固定在所述底座上方的检测平台以及位于所述检测平台上的测量装置，其特征在于，所述测量装置包括可在所述检测平台上方水平直线滑动的第一轴体，垂直固定在所述第一轴体上且水平设置的第二轴体，以及一竖直的第三轴体，所述第三轴体设置在所述第二轴体上且可沿所述第二轴体滑动，所述第三轴体上还设有可在所述第三轴体上竖直滑动的测量组件，所述测量组件包括CCD传感器以及激光发生器。本实用新型设备架构稳定，检测空间利用大，而且测量精度高，检测平台稳定，制作成本低。