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一种用于两种不同封装工艺要求的引线框架

摘要

本实用新型公开一种用于两种不同封装工艺要求的引线框架,该引线框架的设计是从原设计的步距为9.000±0.02mm,更改为8.984±0.02mm,从而来补偿铜材膨胀系数偏大。通过上述方案,本实用新型的有益效果是:通过将步距更改为8.984±0.02mm,从而来补偿铜材膨胀系数偏大,进而实现铜材质引线框架与铁镍材质引线框架共用一套生产线,不但节省了多生产线的购置,而且也可实现所述项目的企业成本的预期效果,同时也实现了不同产品对散热性要求。另外,通过在芯片的背层贴敷有锡合金层,进而将贴片的温度降至320℃,完全不会影响后续产品使用。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-04-12

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L23/495 变更前: 变更后: 申请日:20140318

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2014-08-13

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