首页> 中国专利> 一种倾斜宽场光切片扫描成像显微系统

一种倾斜宽场光切片扫描成像显微系统

摘要

本实用新型包括激光发射装置,由激光发射装置发射的激光入射二维扫描振镜、准直透镜组及第一显微物镜组成的激光扫描光路对样品台上的样品进行倾斜扫描;第二显微物镜、场镜、探测器组成了成像探测光路,其光轴与激光扫描光路光轴垂直,成像显示控制装置通过数据采集卡、样品台控制装置分别控制二维扫描振镜、第二显微物镜、探测器的同步动作及样品台的自动位移,对采集的探测器成像数据处理形成样品宽场三维图像信息。本实用新型的成像显微系统及成像方法扫描成像速度快,分辨率高,可实现宽场扫描成像。

著录项

  • 公开/公告号CN203705345U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2014-07-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 苏州大猫单分子仪器研发有限公司;

    申请/专利号CN201420021659.0

  • 发明设计人 于冬梅;匡翠云;毕学卫;

    申请日2014-01-14

  • 分类号

  • 代理机构上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人胡思棉

  • 地址 215000 江苏省苏州市苏州工业园区星湖街218号生物纳米园A2楼213B室

  • 入库时间 2022-08-22 00:10:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-12-30

    避免重复授予专利权 IPC(主分类):G01N21/64 授权公告日:20140709 放弃生效日:20151230 申请日:20140114

    避免重复授权放弃专利权

  • 2014-07-09

    授权

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