首页> 中国专利> 地面微波干涉测量仪IBIS-S固定安装支座

地面微波干涉测量仪IBIS-S固定安装支座

摘要

本实用新型提供了一种地面微波干涉测量仪IBIS-S固定安装支座,包括:角度板,包括以一夹角相互连接的上板和下板,上板布置有用于连接干涉测量成像仪的仪器安装座,下板用于连接升降装置;升降装置,与下板连接,升降装置能进行升降动作来带动角度板在竖直方向移动。干涉测量成像仪通过布置于角度板上的仪器安装座与角度板连接,通过更换不同夹角的角度板或改变上板和下板之间的夹角能调整地面微波干涉测量仪IBIS-S的角度。升降装置能进行升降动作来带动角度板在竖直方向移动,从而调整地面微波干涉测量仪IBIS-S的高低。本实用新型支架的上端与升降装置固定连接,支架的下端用于埋设在预定地点,从而能有效防止地面微波干涉测量仪IBIS-S晃动。

著录项

  • 公开/公告号CN203687903U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2014-07-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201320882410.4

  • 申请日2013-12-30

  • 分类号

  • 代理机构北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人康正德

  • 地址 100011 北京市东城区安外大街丙88号

  • 入库时间 2022-08-22 00:10:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-07-02

    授权

    授权

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号