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一种测试激光倍频晶体性质的装置

摘要

一种测试激光倍频晶体性质的装置,该装置包括依次设置的激光光源、入射激光光路、载物台、二次谐波激光光路、针孔、入射光滤色片和光电倍增管。测试时,利用激光倍频晶体具有对入射激光进行倍频的性质,采用激光对激光倍频晶体进行照射,产生入射激光的二次谐波,用光电倍增管对出射的二次谐波进行接收,得到二次谐波的光强度,用该装置对激光倍频晶体不同区域进行照射,得到不同区域的二次谐波强度,通过分析不同区域产生二次谐波的强度,可对激光倍频晶体的结构和性质进行判断,无须对晶体进行破坏,就能分析出其内部结构,实现了对激光倍频晶体质量的无损探测。

著录项

  • 公开/公告号CN203616251U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2014-05-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 有研光电新材料有限责任公司;

    申请/专利号CN201320735502.X

  • 申请日2013-11-19

  • 分类号

  • 代理机构北京北新智诚知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘秀青

  • 地址 065001 河北省廊坊市高新技术开发区

  • 入库时间 2022-08-22 00:07:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-11-06

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N21/63 授权公告日:20140528 终止日期:20171119 申请日:20131119

    专利权的终止

  • 2014-05-28

    授权

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