首页> 中国专利> 一种高倍过载1KPa硅微压传感器芯片结构

一种高倍过载1KPa硅微压传感器芯片结构

摘要

一种高倍过载1KPa硅微压传感器芯片结构,其特征在于梁—单岛双面双片微结构:上芯片正面“I”形梁上“U”形压力敏感电阻,浅槽外周为铝电极引线及引线焊盘;上芯片背面,相对于浅槽部位,剩余膜片厚度与中心方形支撑相连,即为单硬芯形敏感膜片;下芯片正面除周边封接面外是过压截止槽,中心有引压通孔;上、下芯片由硅橡胶密封后,经划片分割后形成单个微压传感器芯片。效果:本芯片结构的传感器压力量程仅为1KPa,因梁结构的应力集中效应,1KPa压力时灵敏度输出达到20mV/1KPa(1mA激励),线性度达到0.05%FS.采用了用双抛硅单晶片代替封接玻璃,高强度密封胶在室温下粘接固化实现了无应力封接;当上芯片承受高倍过载时,硬芯形敏感膜片向下弯曲触在浅槽上而截止,这种结构实现了抗50倍过压的保护。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-04-02

    授权

    授权

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号