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利用连续532nm激光器测量固体中稀土离子辐射寿命的装置

摘要

利用连续532nm激光器测量固体中稀土离子辐射寿命的装置,属于稀土性质测量领域。本实用新型为了解决现有的测量稀土离子辐射寿命系统庞大、荧光激发效率低的问题。激光器发出的连续激光的波长为532nm,光电调制器的电压输入端与高压模块的电压输出端连接,方波发生模块通过滤波器与高压模块的输入端连接,方波发生模块与数据采集卡连接,激光器发出的连续激光入射至电光调制器,经过偏振片及一号透镜聚焦到待测稀土样品上,激发待测稀土样品产生的荧光入射至二号透镜,再会聚至光谱仪的光接收端并获得荧光信号,光电探测器的输入端和输出端与光谱仪和数据采集卡连接,显示器与计算机主机连接。本实用新型用于测量固体中稀土离子辐射寿命。

著录项

  • 公开/公告号CN203299126U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2013-11-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201320375799.3

  • 发明设计人 秦江;张治国;

    申请日2013-06-27

  • 分类号

  • 代理机构哈尔滨市伟晨专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人张伟

  • 地址 150000 黑龙江省哈尔滨市松北区世茂滨江新城三期一区D43栋1单元-204号

  • 入库时间 2022-08-21 23:57:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-11-20

    授权

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