公开/公告号CN203101582U
专利类型实用新型
公开/公告日2013-07-31
原文格式PDF
申请/专利权人 深圳安博电子有限公司;
申请/专利号CN201320002638.X
发明设计人 方盼;
申请日2013-01-04
分类号
代理机构深圳中一专利商标事务所;
代理人张全文
地址 518000 广东省深圳市龙岗区布吉镇三联和生工业区2栋
入库时间 2022-08-21 23:51:43
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2015-02-25
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R31/28 授权公告日:20130731 终止日期:20140104 申请日:20130104
专利权的终止
2013-07-31
授权
授权
机译: 使用任意波形发生器的AFCI测试和测试系统的电弧发生装置
机译: 在集成电路之间的切缝区域中提供一种测试系统的测试系统,该测试系统以晶片形式集成在基板上,并且该测试系统用于测量和/或测试系统中测试结构的参数
机译: 用于对生物测试样本中的一种或多种目标类型的目标分子存在进行测试的缓冲液的测试系统;用于测试生物测试样品中一种或多种目标类型的目标分子的存在的测试系统;以及靶向分子以促进对生物测试样品的一种或多种靶类型的靶分子的存在的测试的方法。