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Arc generating apparatus for AFCI test and test system using arbitrary waveform generator

机译:使用任意波形发生器的AFCI测试和测试系统的电弧发生装置

摘要

The present invention relates to an arc generator used for testing an arc-fault circuit interrupter (AFCI) and a test system implementing the arc generator as an arbitrary waveform generator. One feature of the present invention is to generate an arc waveform of low current instead of high current for AFCI test, and adjust the magnitude and frequency of the generated arc waveform to accurately model the arc waveform for the test and apply it to the input detection part of the AFCI. , An arc generator for AFCI testing, and another feature of the present invention is to use the arbitrary waveform generator, which is a general-purpose measuring instrument, without using a separate arc generator and a load device. Arbitrary waveform generator for AFCI test that can automatically check the electrical characteristics of AFCI by changing the magnitude and frequency of arc waveform by controlling the output of arc waveform output from arbitrary waveform generator after input and controlling by PC It relates to a test system using.
机译:本发明涉及一种用于测试电弧故障电路断续器(AFCI)的电弧发生器以及一种将该电弧发生器实现为任意波形发生器的测试系统。本发明的一个特征是生成用于AFCI测试的低电流而不是高电流的电弧波形,并且调整所生成的电弧波形的幅度和频率以精确地建模用于测试的电弧波形并将其应用于输入检测AFCI的一部分。本发明的另一个特征是,在不使用单独的电弧发生器和负载装置的情况下,使用作为通用测量仪器的任意波形发生器,该电弧发生器是用于AFCI测试的。用于AFCI测试的任意波形发生器,通过在PC输入并控制后控制任意波形发生器输出的电弧波形的输出,可以通过改变电弧波形的幅度和频率来自动检查AFCI的电气特性,涉及一种测试系统。

著录项

  • 公开/公告号KR200278964Y1

    专利类型

  • 公开/公告日2002-06-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 단암전자통신주식회사;

    申请/专利号KR20020008919U

  • 发明设计人 양승국;

    申请日2002-03-26

  • 分类号G01R31/00;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-22 00:28:41

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