公开/公告号CN203053774U
专利类型实用新型
公开/公告日2013-07-10
原文格式PDF
申请/专利权人 武汉华科新材料有限公司;
申请/专利号CN201320026625.6
发明设计人 舒琦;
申请日2013-01-18
分类号
代理机构
代理人
地址 430080 湖北省武汉市青山区20街3号楼18号商网
入库时间 2022-08-21 23:50:24
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2013-07-10
授权
授权
机译: X射线荧光分析单元包括用于检测来自试样的激发荧光的检测器
机译: 用于在X射线荧光分析中确定测量点强度数据的试样部分包括一个探针,该探针被具有相同线性衰减系数的材料包围
机译: 金属测试样品,用于光谱或X射线荧光分析