基于数字微镜平面结构光照明的粒子场测量装置及测量方法

摘要

本发明提供的是一种基于数字微镜平面结构光照明的粒子场测量装置及测量方法。准直扩束后的平行光经DMD生成的数字一维周期光栅反射后，再依次经过第一柱面透镜、滤波器和第二柱面透镜生成平面结构光照射粒子场，再经粒子场散射和图像传感器采集获得成像图样；再经计算机控制同步控制器同步触发控制DMD和图像传感器，由DMD控制数字一维周期光栅产生相移依次为0、2π/3和4π/3，并由图像传感器依次采集获得三幅相移依次为0、2π/3和4π/3的图样，计算机将采集获得的干涉图样处理，获取待测物体的相位分布。本方法与装置具有响应速度快、相移稳定、使用方便等特点。