基于哈希表的存储器内建自修复系统及方法

摘要

本发明公开了一种基于哈希表的存储器内建自修复系统，该系统包括内建自修复BIST模块和内建冗余分析BIRA模块，其中：BIST模块，用于对存储器进行测试，将检测到的故障地址暂存在BIST模块中，并向BIRA模块输出故障地址；BIRA模块，用于判断访问地址是否为故障地址，并为故障地址分配冗余资源，进行故障地址重映射，从而完成对存储器的修复。本发明同时公开了一种基于哈希表的存储器内建自修复方法。利用本发明，地址比较效率高，从根本上解决了传统存储器内建自修复方法全搜索地址比较效率低，无法真正修复多故障存储器的缺点，且兼具占用面积小，功耗低的优点。