自动测量批量微控晶振特性的测试系统

摘要

本实用新型公开了一种自动测量批量微控晶振特性的测试系统，其包括恒温温箱、频率测试设备、控制装置以及外部控制设备，所述控制装置设置有一级控制电路，所述恒温温箱内设置有用于控制所述恒温温箱内部环境的恒温温箱控制表头及若干测试板，每个所述测试板上还设置有二级控制电路及若干微控晶振节点，所述二级控制电路包括二级总控单片机、连接待测晶振节点以选择被测晶振的第一选择电路以及连接各晶振节点通信口以采集被选中晶振的温度电压数据的第二选择电路。本实用新型的测试系统可自动完成所有温度点下恒温温箱中全部待测微控晶振的频率采集及温度电压数据对应表的数据采集，全程自动化进行，大大的提高了测试效率及产品的出厂合格率。