相位噪声测试系统中压控晶振的设计与实现

摘要

随着电子技术的发展,对频率合成器的相位噪声的要求越来越高,研究低相位噪声、并对频率综合器的相位噪声做测试已经成为系统发展的重点. 一般相位噪声测试中均采用检相法,检相法的关键在于用符合低底部噪声、良好的线性灵敏度、低Q值等要求的压控晶振来实现锁相环的锁相,从而达到测试测试件的相位噪声的目的.