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一种利用组合偏振片和多缝衍射法测量偏振态的装置

摘要

一种利用组合偏振片和多缝衍射法测量偏振态的装置,涉及一种测量偏振态的装置,它为了解决现有测量装置应用成本高,且只能测量单一波长偏振光的问题,它包括一号偏振片、二号偏振片、二元光栅、凸透镜、CCD探测器和数据处理单元,一号偏振片与二号偏振片位于同一平面内且固定连接形成一体结构,一号偏振片位于二号偏振片的正上方,二元光栅与一号偏振片所在平面相平行、凸透镜的光轴垂直于一号偏振片平面,二元光栅位于一号偏振片与凸透镜之间,CCD探测器位于凸透镜的另一侧,且所述CCD探测器的光敏面位于所述凸透镜的焦平面上,CCD探测器的信号输出端连接在数据处理单元的数据输入端。适用于测量偏振态。

著录项

  • 公开/公告号CN202533175U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2012-11-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 黑龙江工程学院;

    申请/专利号CN201220210909.6

  • 发明设计人 白云峰;包诠真;李林军;贺泽龙;

    申请日2012-05-11

  • 分类号

  • 代理机构哈尔滨市松花江专利商标事务所;

  • 代理人张宏威

  • 地址 150050 黑龙江省哈尔滨市道外区红旗大街999号

  • 入库时间 2022-08-21 23:36:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-06-29

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01J4/00 授权公告日:20121114 终止日期:20150511 申请日:20120511

    专利权的终止

  • 2012-11-14

    授权

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