首页> 外国专利> Polarization state measuring apparatus, polarization state measuring method, optical measuring apparatus and optical state measuring method

Polarization state measuring apparatus, polarization state measuring method, optical measuring apparatus and optical state measuring method

机译：偏振态测量装置，偏振态测量方法，光学测量装置和光学状态测量方法

页面导航

著录项
相似文献

摘要

机译：

著录项

公开/公告号JP2013036792A5

专利类型
公开/公告日2014-09-18

原文格式PDF
申请/专利权人
展开▼

申请/专利号JP2011171535
发明设计人
展开▼

申请日0000-00-00
分类号G01N21/21;G01N21/19;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 16:20:11

相似文献

专利
外文文献
中文文献

获取专利

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

客服微信
服务号