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基于光子计数的光子相关光谱法的颗粒测量装置

摘要

本实用新型涉及一种于光子计数的光子相关光谱法的颗粒测量装置,入射光路通过样品池,样品池发出的与入射光路成90度的散射光依次通过第二透镜、第三透镜和针孔光阑聚焦到光电倍增管上后,依次经过放大器、甄别器、光子计数卡组成散射信号采集和处理单元。本装置相对于传统的光子相关光谱法具有成本低、灵活性高的特点,还易于结合新型计算机接口技术以提高相关器的性能。由于本实用新型的光路部分采用的都是普通的光学原件,因此可大大降低了装置的成本,而且易于维护,当有部件发生损坏时,可以方便的购买到替换的部件。

著录项

  • 公开/公告号CN202442939U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2012-09-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海理工大学;

    申请/专利号CN201220077785.9

  • 发明设计人 李军;杨晖;杨海马;余向飞;

    申请日2012-03-05

  • 分类号

  • 代理机构上海申汇专利代理有限公司;

  • 代理人吴宝根

  • 地址 200093 上海市杨浦区军工路516号

  • 入库时间 2022-08-21 23:34:26

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-04-30

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N15/02 授权公告日:20120919 终止日期:20130305 申请日:20120305

    专利权的终止

  • 2012-09-19

    授权

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