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一种测量电子束束斑尺寸的测量装置

摘要

本实用新型涉及电子技术领域,具体涉及一种测量装置。一种测量电子束束斑尺寸的测量装置,包括辅助偏转系统、法拉第筒、与法拉第筒连接的电流测量系统,辅助偏转系统与法拉第筒之间设有辅助法拉第筒,辅助法拉第筒的底部设有倾斜的槽口,槽口联通辅助法拉第筒的顶部。辅助法拉第筒的两端连接电流测量系统。由于采用上述技术方案,本实用新型可以有效减少刀口散射产生的测量误差,且实施简单方便。

著录项

  • 公开/公告号CN202255261U

    专利类型实用新型

  • 公开/公告日2012-05-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海显恒光电科技股份有限公司;

    申请/专利号CN201120326643.7

  • 发明设计人 赵健;夏忠平;张学渊;钟伟杰;

    申请日2011-09-01

  • 分类号

  • 代理机构上海精晟知识产权代理有限公司;

  • 代理人何新平

  • 地址 200233 上海市徐汇区宜山路829号6幢504室

  • 入库时间 2022-08-21 23:29:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-21

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B7/00 授权公告日:20120530 终止日期:20170901 申请日:20110901

    专利权的终止

  • 2012-05-30

    授权

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