用于模拟集成电路测试系统的时间参数测试专用电路

摘要

一种用于模拟集成电路测试系统的时间参数测试专用电路，它包括精密DA转换模块、输入信号处理模块、触发模块、高速计数模块；所述的精密DA转换模块和输入信号处理模块连接触发模块；所述的触发模块连接高速计数模块；本实用新型与现有技术相比，具有以下明显效果：1、设计合理；2、集成度高；3、参数测量范围宽，由于专用电路中采用了大规模集成电路和高速比较触发器，使参数测试的精度和可测范围大大提高。