用于使用高速输入/输出接口进行测试的集成电路

摘要

描述了被配置成用于进行测试的集成电路。该集成电路包括高速输入/输出接口。该集成电路还包括耦合到高速输入/输出接口的测试控制器。该集成电路还包括耦合到测试控制器的测试电路系统。测试控制器基于来自高速输入/输出接口的控制器协议测试信息来控制测试电路系统。