一种新型ICT测试治具

摘要

本实用新型提供一种新型ICT测试治具，属于电子产品领域，ICT治具上设置有探针，PCB板上设置有网格线，测试点设置在网格线的交点上，网格线的间距根据治具中两探针的间距而设定，探针孔位设置在网格线的交点上。该实用新型和现有技术相比，在升级改版时其测试点也必须加在网格交点上，每个红色的圆圈就是一个单独的探针孔位，这样就不会出现原来的PCB测试点和改版后的测试点有重叠的风险，板子改动后，不需要的探针就可以拔掉，需要的地方可以加上，而且不会存在空间不够做不了探针的风险，继而不需要重新做治具，节省了成本和时间，可以应用到一切需要大规模生产的电子产品中，对增强产品的市场竞争力有很好的作用。