首页> 中国专利> 能量色散X荧光分析仪

能量色散X荧光分析仪

摘要

本实用新型公开了一种能量色散X荧光分析仪,包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、计算机以及测样装置;所述信号探测装置包括探测器、放大器以及模数转换器;所述激发光源装置中设有低功率X射线发生器和仪器校正片,所述的仪器校正片与被测样品紧密贴近并处于低功率X射线发生器激发射线的最佳反射角的位置上,在不测量样品时进行自动测量所述校正片,自动计算出校正系数,以达到自动校正的目的。本实用新型带有的样品自旋装置不仅能够消除样品表面不均匀产生的误差,而且能够自动校正漂移系数,具有使用方便、成本低、精度高、测量时间短的优点,是钢铁、水泥、有色矿山、地质、耐火材料等行业快速分析的理想分析仪器。

著录项

  • 公开/公告号CN201373858Y

    专利类型

  • 公开/公告日2009-12-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海精谱仪器有限公司;

    申请/专利号CN200920068395.3

  • 发明设计人 郭晓明;苏建平;时玲;

    申请日2009-03-04

  • 分类号

  • 代理机构上海天翔知识产权代理有限公司;

  • 代理人陈学雯

  • 地址 201801 上海市嘉定区马陆镇嘉新公路1135号

  • 入库时间 2022-08-21 23:06:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-04-24

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N23/223 授权公告日:20091230 终止日期:20120304 申请日:20090304

    专利权的终止

  • 2009-12-30

    授权

    授权

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号