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包括可去除测试点部分的电路板和测试系统

摘要

本实用新型涉及包括可去除测试点部分的电路板和测试系统。本实用新型的电路板包括至少一个功能部分和附装至所述至少一个功能部分的至少一个可去除测试点部分,所述可去除的测试点部分包括至少一个测试点,所述测试点电连接至位于所述功能部分上的至少一个测试装置。所述测试点允许被接触以验证所述功能部分是否正常工作或者安装的电气元件是否电连接至所述电路板。本实用新型还提供可配置的测试电路板,其可被调整以适应不同尺寸和电气测量要求的电路板。本实用新型还提供了用于测试这些电路板系统。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-11-24

    专利权有效期届满 IPC(主分类):G01R31/28 授权公告日:20090429 申请日:20071009

    专利权的终止

  • 2009-04-29

    授权

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