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微扫描器平面元件法向矢量测量仪

摘要

一种微扫描器平面元件法向矢量测量仪,其特征是:激光光纤模块,电源,开关和摄像头置于箱体中,激光光纤耦合模块的发光部分置于测量仪的视场外,传递激光的光纤部分置于视场内;分光镜嵌入箱体底板中央,光纤插针体安装于分光镜的中心,激光光纤耦合模块与光纤插针体之间通过光纤相联;激光光纤耦合模块可以安装在箱体内视场外的任何位置;在投影屏的正上方设置一个摄像头,摄像头与显示器相连;摄像头的光轴和激光光纤耦合模块发出的入射光线重合并垂直于分光镜的基面;解决了光源遮挡视场问题,消除了光线侧移相对误差这一对矛盾,提高了测量精度,该仪器的光源几乎没有遮挡视场,屏幕与入射光束垂直,测量时没有相对误差。

著录项

  • 公开/公告号CN200944046Y

    专利类型

  • 公开/公告日2007-09-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 昆明物理研究所;

    申请/专利号CN200620022311.9

  • 发明设计人 吴新社;蔡毅;

    申请日2006-08-29

  • 分类号

  • 代理机构昆明正原专利代理有限责任公司;

  • 代理人陈左

  • 地址 650223 云南省昆明市五华区教场东路31号

  • 入库时间 2022-08-21 22:55:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-10-28

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B11/00 授权公告日:20070905 终止日期:20140829 申请日:20060829

    专利权的终止

  • 2007-09-05

    授权

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