公开/公告号CN2530266Y
专利类型
公开/公告日2003-01-08
原文格式PDF
申请/专利号CN01271029.6
申请日2001-11-20
分类号G01N24/10;
代理机构
代理人
地址 100080 北京市海淀区中关村北二条六号
入库时间 2022-08-21 22:44:05
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2005-01-26
专利权的终止未缴年费专利权终止
专利权的终止未缴年费专利权终止
2003-01-08
授权
授权
机译: 磁共振成像装置和磁共振成像装置的磁场变化测量方法和磁场变化补偿方法
机译: 磁共振成像装置的磁场波动的测量方法,磁场波动的补偿方法和磁共振成像装置
机译: 磁场分布测量方法,用于测量磁场分布的工具,磁体装置以及磁共振成像装置