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激光非接触式表面粗糙度与位移测量装置

摘要

本实用新型涉及一种激光非接触式表面粗糙度与位移测量装置。它由激光源、计算机系统、测量头架、入射光纤部分、接收反射光纤部分、面阵CCD摄像机、图像卡等组成,通过测量从被测工件表面反射回来的散射光能的分布确定被测工件表面粗糙度与位移值。既能测量平面工件,还可测量曲面工件。

著录项

  • 公开/公告号CN2427793Y

    专利类型

  • 公开/公告日2001-04-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN00222893.9

  • 发明设计人 伏德贵;

    申请日2000-04-26

  • 分类号G01B11/30;

  • 代理机构四川科学城专利事务所;

  • 代理人何勇盛;阮甫全

  • 地址 621900 四川省绵阳919信箱658分箱

  • 入库时间 2022-08-21 22:41:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2006-06-21

    专利权的终止未缴年费专利权终止

    专利权的终止未缴年费专利权终止

  • 2001-04-25

    授权

    授权

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