公开/公告号CN2427793Y
专利类型
公开/公告日2001-04-25
原文格式PDF
申请/专利权人 中国工程物理研究院机械制造工艺研究所;
申请/专利号CN00222893.9
发明设计人 伏德贵;
申请日2000-04-26
分类号G01B11/30;
代理机构四川科学城专利事务所;
代理人何勇盛;阮甫全
地址 621900 四川省绵阳919信箱658分箱
入库时间 2022-08-21 22:41:38
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2006-06-21
专利权的终止未缴年费专利权终止
专利权的终止未缴年费专利权终止
2001-04-25
授权
授权
机译: 非接触式边缘检测器。 -使用激光束测量表面粗糙度
机译: 激光非接触式扩展位移测量方法
机译: 激光位移测量装置和激光位移测量方法