数字集成电路多值逻辑测试仪

摘要

本实用新型涉及一种用于测试一般数字集成电路的功能及参数的数字集成电路多值逻辑测试仪，本实用新型的特点是融功能测试与精确的参数测试为一体，在逻辑功能测试中，对集成电路各管脚进行多值参数循环测试；本测试仪的电路部分主要包括：微处理器、管脚驱动电路、用于产生多个测试电压、负载电流的多值参数选择切换电路部分、多值输出比较器等，利用比较器及微处理器可精确判定逻辑值的阈值和门限，并可得出相应门限及阈值随测试电压，电流变化的数据。