基于阈值法的数字集成电路测试仪的研制

摘要

研制了一种基于阈值法的数字集成电路测试仪,用于检测74LS10、74LS138等74LS系列芯片的性能.该测试仪采用两片STM8型微控制器作为核心单元,通过测试向量集来判断芯片的性能,测试结果输出到LCD显示屏中.实际测试结果表明:该测试仪操作灵活,测试速度快,能准确检测芯片的状态,满足芯片诊断的需求.