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电荷耦合元件检测模块的控制方法

摘要

电荷耦合元件(CCD)检测模块的控制方法。CCD检测模块中的光检测器分成第一光检测器组与第二光检测器组。对第一与第二光检测器组进行曝光。将CCD移位寄存器单元中的第一信号电荷与第二信号电荷依序移位输出至一电荷接收单元中,撷取第一信号电荷所对应的影像信号。再一次地对第一与第二光检测器组进行曝光。最后,将CCD移位寄存器单元中的第一信号电荷与第二信号电荷依序移出输出至电荷接收单元中,并撷取第二信号电荷所对应的影像信号。

著录项

  • 公开/公告号CN1178452C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2004-12-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 虹光精密工业股份有限公司;

    申请/专利号CN00134272.X

  • 发明设计人 陈琰成;

    申请日2000-11-29

  • 分类号H04N1/03;H04N1/195;H04N3/15;

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人黄敏

  • 地址 台湾省新竹科学园区

  • 入库时间 2022-08-23 08:57:28

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2004-12-01

    授权

    授权

  • 2002-06-26

    公开

    公开

  • 2001-03-21

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

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