基于FMEA中故障影响数据的电路板测试设计与相关性矩阵建立方法

摘要

本发明的基于FMEA中故障影响数据的电路板测试设计与相关性矩阵建立方法，用于故障诊断领域。本方法包括：由电路板的FMEA数据建立故障模式与影响关联表；由上层影响建立初始测试集和故障模式与初始测试的逻辑关联矩阵，并确定初始测试存在的不可检测故障和模糊组故障；由不可检测故障与模糊组故障的局部影响，建立检测增补测试集和隔离增补测试集，构建不可检测故障与检测增补测试的逻辑关联矩阵、模糊组故障与隔离增补测试的逻辑关联矩阵；合并整理得到电路板完整测试集和电路板故障模式与测试相关性矩阵，用于电路板测试与故障诊断。本发明保证了最高的故障检测率，又优先选取了易于测量的测试点，可方便、快捷地进行电路板故障诊断。