法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-09-11
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N15/02 授权公告日:20160330 终止日期:20170925 申请日:20130925
专利权的终止
2016-03-30
授权
授权
2014-02-05
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N15/02 申请日:20130925
实质审查的生效
2014-01-01
公开
公开
机译: 一种用于测量样品激发荧光质的荧光的装置,其形式为滴液激发荧光质,其基本上平行地包含在两个表面铁砧之间的表面张力的作用下。测量样品激发荧光质的荧光的方法两个基本平行的超细砧座之间的表面张力所包含的纳米粒子的量和用于测量样品受到来自包括低于亚微米级的光源的光的样品的荧光光谱的方法该样品光谱的光源的光谱扩展进行测量以获得荧光光谱
机译: 扫描探针显微镜图像和激光激发发射分布图像测量装置
机译: 一种用于测量铁磁金属元件中的载荷的方法,一种用于测量平面传感器中的载荷分布的方法以及一种用于测量载荷分布的测量装置