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用于基于IR辐射的温度测定的方法和基于IR辐射的温度测量设备

摘要

在温度测量设备(1)中设有IR辐射探测器(2)和与一物体(7)的表面良好传热地连接的基准元件(3),其中在基准元件(3)上构造有具有高发射率的第一区域(4)和具有高反射率的第二区域(5)并且IR辐射探测器(2)设置用于单独地检测各区域(4、5)和物体(7)的表面区域(12)的IR辐射(9、10、11),其中在IR辐射探测器(2)中构造有计算装置(13),所述计算装置设置用于由检测的IR辐射(9、10、11)得出物体(7)的发射和反射校正的温度值。

著录项

  • 公开/公告号CN102221410B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-03-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 特斯托股份公司;

    申请/专利号CN201110073043.9

  • 申请日2011-03-25

  • 分类号G01J5/10(20060101);G01J5/02(20060101);

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人沈英莹

  • 地址 德国伦茨基希

  • 入库时间 2022-08-23 09:36:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-07

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01J5/10 变更前: 变更后: 申请日:20110325

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2016-03-09

    授权

    授权

  • 2013-01-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J5/10 申请日:20110325

    实质审查的生效

  • 2011-10-19

    公开

    公开

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