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一种测量取向硅钢晶粒取向差的方法

摘要

本发明属于通过测量背散射测试晶体结构技术领域,涉及一种利用电子背散射衍射(EBSD)技术检测取向硅钢晶粒取向差的方法。本发明采用EBSD检测晶粒取向的原理,测量所取试样内每个晶粒的欧拉角,计算相邻晶粒间的取向差以及该晶粒与标准高斯织构的取向差,得到磁感应强度与取向差之间的对应关系。该方法具有操作简单、测量速度快、测量区域大,表达直观易懂、所得结果具有代表性等优点。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-15

    专利权的转移 IPC(主分类):G01N23/203 登记生效日:20200424 变更前: 变更后: 变更前:

    专利申请权、专利权的转移

  • 2016-03-02

    授权

    授权

  • 2013-10-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/203 申请日:20130529

    实质审查的生效

  • 2013-09-04

    公开

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