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一种用于集成电路测试系统校准装置中矩阵开关通道映射的方法

摘要

一种集成电路测试系统校准装置中矩阵开关通道映射方法,包括以下步骤:第一步:将矩阵开关的切换规则分层,分为逻辑序号层、物理序号层、矩阵开关序号层;第二步:定义逻辑序号至物理序号的映射表,将被校准资源的通道序号逐项映射至矩阵开关外部接线的序号;第三步:定义物理序号至矩阵开关序号的映射表;第四步:矩阵开关切换规则通过上述映射表转换得到;第五步:通过编辑逻辑序号至物理序号的映射表、物理序号至矩阵开关序号的映射表,可以实现更改矩阵开关切换规则的目的。其优点是通道映射方法的结构清晰、意义明确,增强了集成电路测试系统校准装置的通用性。

著录项

  • 公开/公告号CN103513207B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-02-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201210221101.2

  • 发明设计人 李轩冕;胡勇;

    申请日2012-06-29

  • 分类号

  • 代理机构武汉河山金堂专利事务所(普通合伙);

  • 代理人胡清堂

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路718号

  • 入库时间 2022-08-23 09:35:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-02-17

    授权

    授权

  • 2014-02-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R35/00 申请日:20120629

    实质审查的生效

  • 2014-01-15

    公开

    公开

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