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半导体二维电子气圆偏振自旋光电流的检测系统及其检测方法

摘要

本发明公开了半导体二维电子气圆偏振自旋光电流的检测系统及其检测方法,检测系统包括单色圆偏振光源、半导体二维电子气样品、压电陶瓷片、高压交流信号源、锁相放大器和电阻;所述单色圆偏振光源斜照射半导体二维电子气样品;所述压电陶瓷片对半导体二维电子气样品施加周期性变化的应力;所述高压交流信号源向压电陶瓷片提供驱动电压;所述电阻与半导体二维电子气样品串联成一个回路;所述锁相放大器检测流经电阻的电流。本发明的检测灵敏度高,增强了CPGE技术的可靠性与优越性。

著录项

  • 公开/公告号CN103383402B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-02-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南通大学;

    申请/专利号CN201210131927.X

  • 发明设计人 余晨辉;罗向东;刘培生;徐炜炜;

    申请日2012-05-02

  • 分类号G01R19/00(20060101);G01R31/26(20140101);

  • 代理机构常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人徐琳淞

  • 地址 226019 江苏省常州市南通市啬园路9号

  • 入库时间 2022-08-23 09:35:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-16

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R19/00 授权公告日:20160210 终止日期:20180502 申请日:20120502

    专利权的终止

  • 2016-02-10

    授权

    授权

  • 2013-12-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R19/00 申请日:20120502

    实质审查的生效

  • 2013-11-06

    公开

    公开

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