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一种三反射镜紧缩场天线测量系统

摘要

本发明提供的一种三反射镜紧缩场天线测量系统,包括馈源、主反射镜、第一赋形副反射镜和第二赋形副反射镜,馈源发出的电磁波经过第一赋形副反射镜反射到第二赋形副反射镜上,第二赋形副反射镜将电磁波反射到主反射镜上,经主反射镜反射的电磁波以平面电磁波出射,生成系统出射场;第一赋形副反射镜与第二赋形副反射镜形成卡塞格伦天线结构,第二赋形副反射镜与主反射镜形成格里高利天线结构。本发明的三反射镜紧缩场天线测量系统采用卡塞格伦-格里高利三反射镜结构来设计紧缩场天线测量系统,不仅可以达到较高的主镜口径利用率,保持了优良的静区性能,而且降低了制造成本。

著录项

  • 公开/公告号CN103513117B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-01-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京邮电大学;

    申请/专利号CN201310296808.4

  • 申请日2013-07-16

  • 分类号

  • 代理机构北京德琦知识产权代理有限公司;

  • 代理人王一斌

  • 地址 100876 北京市海淀区西土城路10号

  • 入库时间 2022-08-23 09:34:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-01-20

    授权

    授权

  • 2014-02-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R29/08 申请日:20130716

    实质审查的生效

  • 2014-01-15

    公开

    公开

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