首页> 中国专利> 基于4F干涉系统测试空间光调制器调制性能的测试装置及方法

基于4F干涉系统测试空间光调制器调制性能的测试装置及方法

摘要

本发明公开了一种基于4F干涉系统测试空间光调制器调制性能的测试装置及方法。本装置包括激光器、偏振片、物镜、针孔、透镜、分光棱镜、反射式液晶空间光调制器、反射镜、两个傅里叶透镜、CCD相机和计算机。两个傅里叶透镜结合构成4F系统,并使空间光调制器的像素与CCD相机的像素一一对应。本发明除了能够测试空间光调制器的相位调制性能外,主要是能够测量空间光调制器的像素间相互串扰,对加载相位型给定的相位分布后SLM像素的实际相位调制量进行测量,分析实际调制量与理论值之间的偏差,并研究相应的矫正方法,以使SLM各像素实际调制量与理论值相符,从而改善全息光电再现像的质量。

著录项

  • 公开/公告号CN103454073B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-01-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海大学;

    申请/专利号CN201310397304.1

  • 发明设计人 郑华东;曾震湘;于瀛洁;卢小仟;

    申请日2013-09-04

  • 分类号

  • 代理机构上海上大专利事务所(普通合伙);

  • 代理人陆聪明

  • 地址 200444 上海市宝山区上大路99号

  • 入库时间 2022-08-23 09:33:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-01-13

    授权

    授权

  • 2014-01-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M11/02 申请日:20130904

    实质审查的生效

  • 2013-12-18

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号