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用于借助散射光测量颗粒浓度的测量设备和用于监视测量设备的方法

摘要

提出的用于借助散射光测量废气中粒子浓度的测量设备包括测量室(12)、至少一个光源(10)和至少一个光传感器(15a,15b),其中所述测量室(12)设置在所述光源(10)的光路中,并且其中所述光传感器(15a,15b)检测所述测量室(12)中由所述废气的粒子散射的光。为了检测对于精确的粒子测量决定性的光束(11b)的强度,设置监视装置(22),用于根据散射射束(30)检测所述光束(11b)的强度。借助监视测量,检测所述光束(11b)的强度,其方式是,求取散射射束(30),并且将其与所述散射射束(30)的预先规定的参考值比较。根据所述比较,相应地调节所述光源(10)的强度和/或相应地校正所述粒子测量的测量结果。

著录项

  • 公开/公告号CN103403526B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-01-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 罗伯特·博世有限公司;

    申请/专利号CN201180068933.9

  • 申请日2011-12-27

  • 分类号

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人张涛

  • 地址 德国斯图加特

  • 入库时间 2022-08-23 09:33:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-01-13

    授权

    授权

  • 2013-12-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N15/06 申请日:20111227

    实质审查的生效

  • 2013-11-20

    公开

    公开

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