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基于数值反演的无损检测模拟试块缺陷参数的识别方法

摘要

本发明公开了一种基于数值反演的无损检测缺陷参数识别方法,通过超声和射线等传统无损检测方法识别缺陷长度和位置参数,获得实测的缺陷回波幅值;设定缺陷自身高度和偏转角度的初始范围,采用检测超声回波计算模型模拟不同自身高度和不同偏转角度的缺陷回波幅值;以实测的缺陷回波幅值和模拟的缺陷回波幅值的差异为目标函数,采用反演算法在缺陷自身高度和偏转角度的初始范围内寻找最优的自身高度和偏转角度值。本发明基于数值反演可获得传统无损检测方法无法获得的缺陷自身高度和偏转角度参数,从而可为无损检测模拟缺陷提供全面的尺寸和位置信息;同时,适用于检测方式受限的复杂结构试块。

著录项

  • 公开/公告号CN103604869B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-12-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉大学;

    申请/专利号CN201310603258.6

  • 发明设计人 张俊;李晓红;丁辉;史亚琨;

    申请日2013-11-25

  • 分类号

  • 代理机构武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人张火春

  • 地址 430072 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学

  • 入库时间 2022-08-23 09:33:03

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-12-30

    授权

    授权

  • 2014-03-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N29/04 申请日:20131125

    实质审查的生效

  • 2014-02-26

    公开

    公开

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