公开/公告号CN1197286C
专利类型发明授权
公开/公告日2005-04-13
原文格式PDF
申请/专利权人 株式会社爱德万测试;
申请/专利号CN01132538.0
申请日2001-08-10
分类号H04J13/02;
代理机构上海专利商标事务所有限公司;
代理人张政权
地址 日本东京
入库时间 2022-08-23 08:57:19
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2009-10-07
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2005-04-13
授权
授权
2002-03-06
公开
公开
2001-12-19
实质审查的生效
实质审查的生效
机译: 用于显示多个信号的物理量的物理量显示装置,方法和记录介质
机译: 用于显示多个信号的物理量的物理量显示装置,方法和记录介质
机译: 用于显示多个信号的物理量的物理量显示装置,方法和记录介质