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三坐标测量机测量平面度的样本点优化选取方法

摘要

本发明提供一种三坐标测量机测量平面度的样本点优化选取方法,首先,测量同一生产系统依次间隔抽样的零件确定系统误差模式。然后,将零件表面系统误差模式与禁忌搜索算法整合,改进传统禁忌搜索算法过分依赖初始解的缺点。最后,通过搜索生成三坐标测量机测量零件表面平面度时的测量样本点。本发明生成的测量样本点能够通过测试较少的样本点而快速的覆盖整个平面的极限点。利用选取出的样本点形成的测量样本点集来规划测量路径,可以有效的提高三坐标测量机的测量精度以及测量效率,更加精确地反映零件表面的平面度形貌和加工纹理,改进了传统测量样本点选取方法不能兼顾精度与效率的缺点以及禁忌搜索算法搜索样本点需要人为修正初始样本点的缺陷。

著录项

  • 公开/公告号CN103335626B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-12-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海交通大学;

    申请/专利号CN201310221048.0

  • 发明设计人 肯特;杜世昌;王猛;奚立峰;

    申请日2013-06-04

  • 分类号

  • 代理机构上海汉声知识产权代理有限公司;

  • 代理人郭国中

  • 地址 200240 上海市闵行区东川路800号

  • 入库时间 2022-08-23 09:32:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-12-23

    授权

    授权

  • 2013-11-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B21/30 申请日:20130604

    实质审查的生效

  • 2013-10-02

    公开

    公开

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