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固定于基座上的光学对中器的检校方法

摘要

本发明公开了一种固定于基座上的光学对中器的检校方法,它包括如下步骤:(a)、将待检仪器以横卧放置的方式放在备用基座上,保持待检仪器的基座悬在桌子边沿外侧并垂直朝向墙面;(b)、观察待检仪器的光学对中器的目镜,找出墙面上对应十字分划丝的位置,然后将准备好的十字丝刻划板贴在该位置;(c)、轻轻转动待检仪器的基座180°,再看两十字丝交叉点的相对位置关系,待检仪器的十字分划丝交叉点如果在十字丝刻划板上画的圆内,为合格;如果在圆外,为对中误差超差,则必须校正。本发明不仅快速方便、而且大大提高了校正精度。

著录项

  • 公开/公告号CN103335661B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-10-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国一冶集团有限公司;

    申请/专利号CN201310179381.X

  • 发明设计人 桂祁东;刘思农;何红玲;

    申请日2013-05-15

  • 分类号G01C25/00(20060101);

  • 代理机构42102 湖北武汉永嘉专利代理有限公司;

  • 代理人唐万荣

  • 地址 430081 湖北省武汉市青山区工业大道3号

  • 入库时间 2022-08-23 09:31:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-10-28

    授权

    授权

  • 2013-11-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01C25/00 申请日:20130515

    实质审查的生效

  • 2013-10-02

    公开

    公开

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