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用于提供校准的片上终端阻抗的技术

摘要

本说明书提供了校准集成电路上的片上终端阻抗的技术。片上终端(OCT)校准电路产生校准码,该校准码选择性地控制一组并联连接的晶体管的导通状态。所述OCT校准电路选择一个校准码,以使晶体管的阻抗接近匹配阻抗。选择的校准码控制管脚处的片上终端阻抗。根据一些实施例,所述OCT校准电路将来自晶体管的信号和两个或更多个参考信号进行比较,以改进校准的片上终端阻抗的容差范围。根据其它实施例,所述OCT校准电路在由控制信号使附加晶体管导通之后基于来自晶体管的信号来选择校准码。所述控制信号不用来控制所述片上终端阻抗。

著录项

  • 公开/公告号CN102780482B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-11-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 阿尔特拉公司;

    申请/专利号CN201210256945.0

  • 发明设计人 V·桑图卡;李贤模;

    申请日2007-08-21

  • 分类号H03K19/00(20060101);H04L25/02(20060101);

  • 代理机构11245 北京纪凯知识产权代理有限公司;

  • 代理人赵蓉民

  • 地址 美国加利福尼亚

  • 入库时间 2022-08-23 09:31:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-11-04

    授权

    授权

  • 2013-01-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):H03K19/00 申请日:20070821

    实质审查的生效

  • 2012-11-14

    公开

    公开

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