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非挥发性存储器的数据自动比较测试电路

摘要

本发明公开了一种非挥发性存储器的数据自动比较测试电路,包括:地址累加器、地址映射选择器、系统控制器、地址边界控制器。地址累加器用于完成测试电路地址的加减。地址映射选择器实现测试电路地址和非挥发性存储器地址之间的映射,并产生非挥发性存储器地址。地址边界控制器由段地址产生模块和段地址计算模块组成,用于将非挥发性存储器分割成多个数据段,以及计算各数据段的地址边界以及产生分段比较的停止条件。本发明能减少加法电路的使用、减少电路面积,能灵活有效的实现地址的分段比较,能实现不同位数的数据灵活比较。

著录项

  • 公开/公告号CN103325423B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-10-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华虹宏力半导体制造有限公司;

    申请/专利号CN201210073811.5

  • 发明设计人 高璐;赵锋;雷冬梅;

    申请日2012-03-20

  • 分类号

  • 代理机构上海浦一知识产权代理有限公司;

  • 代理人丁纪铁

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号

  • 入库时间 2022-08-23 09:30:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-10-14

    授权

    授权

  • 2014-02-05

    专利申请权的转移 IPC(主分类):G11C29/12 变更前: 变更后: 登记生效日:20140109 申请日:20120320

    专利申请权、专利权的转移

  • 2013-10-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G11C29/12 申请日:20120320

    实质审查的生效

  • 2013-09-25

    公开

    公开

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